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掃描探針顯微鏡（AFM）只能顯示材料表面的一部分，但它可以準確地反映材料表面的粗糙度[29]。 6 其他方法 等離子處理后高分子材料表面的動態重組導致材料的各種涂層性能發生變化。通過對這些涂層性能的測試和分析，可以依次分析聚合物表面動態變化的性能。例如，通過測試等離子處理后高分子材料與樹脂基體界面的剪切強度、某些高分子材料的染色性能和電性能等，來改變材料表面元素組成和極性基團的變化。。

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